Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung

  1. 1BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
  2. 2Fachbereich 01: Physik und Elektrotechnik / MAPEX Center for Materials and Processes, Universität Bremen

bartsch@bias.de

Phasenmessende Deflektometrie ermöglicht die hochpräzise, flächenhafte 3D-Formerfassung reflektierender Oberflächen. Die Bestimmung von Form und Position der zu prüfenden Oberfläche erfolgt durch das Verfolgen der Sichtstrahlen einer Kamera über die Reflexion am Prüfobjekt zu einer optisch ortskodierten Referenzfläche. Der Einsatz von Liquid Crystal Displays als Referenzfläche ermöglicht die Realisierung der Ortskodierung mittels der Phasenschiebetechnik. Mittels Phasenmessungen kann man den Sichtstrahlen Durchstoßpunkte mit der Displayoberfläche zuordnen. Kennt man Pose und Form des Displays, kann man Aufpunkte zur Strahlverfolgung bestimmen. In dieser Arbeit präsentieren wir einen neuen Ansatz unter Verwendung eines zusätzliches Stereo-Kamerasystems zur Bestimmung absoluter Ortskoordinaten aus Phasenmessungen. Pose und Form des Displays sind damit veränderbar, da man kein Vorwissen zu diesen Parametern benötigt. Systematische Messfehler können so vermieden werden. Des Weiteren ermöglicht das Zusammenführen mehrerer Messungen mit unterschiedlichen Displayposen das Erschließen stark gekrümmter Probengeometrien sowie das Auflösen des Mehrdeutigkeitsproblems in der Deflektometrie.

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@inproceedings{dgao121-a12, title = {Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung}, author = {Jonas Bartsch, Ralf B. Bergmann}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 121. Jahrestagung}, year = {2020}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Vortrag A12} }
121. Jahrestagung der DGaO · Bremen · 2020