Ralf B. Bergmann
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
Fachbereich 01: Physik und Elektrotechnik / MAPEX Center for Materials and Processes, Universität Bremen
MAPEX Center for Materials and Processes, Universität Bremen
Fachbereich 1: Physik und Elektrotechnik, Universität Bremen
32 Beiträge
A6 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
Cavity-Ring-Down-Spektroskopie mit nichtlinearen Kristallen
B21 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
Linsenlose Weißlichtinterferometrie an technischen Bauteilen
B25 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
Materiewellenoptik mit levitierten Nanopartikeln
A26 · Vortrag · 126. Tagung (2025)
Multiple Aperture Shear Interferometry (MArS) and the influence of spatial light modulator and light sources on measurement errors
B38 · Vortrag · 126. Tagung (2025)
Finite Refractive Index Selective Propagation (FRISP) – eine hocheffiziente Methode zur optischen Simulation refraktiver Mikrostrukturen
A7 · Vortrag · 125. Tagung (2024)
Der Einfluss der Wellenvektorunsicherheit auf die Rekonstruktion der Oberflächenform bei einer MArS-Messung
A33 · Vortrag · 125. Tagung (2024)
Charakterisierung von Gestaltabweichungen technischer Oberflächen durch Strukturfunktions-Analyse
B13 · Vortrag · 125. Tagung (2024)
Herstellung von formtreuen freistehenden Mikrostrukturen für den Einsatz in der Nahfeldmikroskopie
B3 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Referenceless phase holography for displaying 3D scenes captured by digital holography
B7 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Sichtfäden - Ein neuer Ansatz zur generischen Kamerakalibrierung
B20 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Γ-Profilometry on Rough Surfaces
B22 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Statistisches Auswertungsverfahren zur Stufenhöhenmessung mittels Multi-Lambda-Scherinterferometrie
B25 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Interferometrische Charakterisierung der optischen Eigenschaften von mittels 3D-Laserlithographie hergestellten Mikrostrukturen
H1 · Hauptvortrag · 122. Tagung (2021)
7-D Metrologie: Die Kohärenzfunktion zur Lösung komplexer Probleme der optischen Messtechnik
P9 · Poster · 122. Tagung (2021)
Quasi-optical components for the THz-regime: Fabrication and characterization
A8 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Form profiler based on imaging with spatially partially coherent light
A11 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry
A12 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung
A29 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Fabrication of polymer-based microstructures on optical multimode fibers
B18 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Four-dimensional calibration of a Multiple Aperture Shear-Interferometer
B30 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Three-dimensional display of objects using spherical wave field synthesis
H1 · Hauptvortrag · 121. Tagung (2020)
Computational Optical Metrology für neue Ansätze in der Formmessung (Hauptvortrag)
P9 · Poster · 121. Tagung (2020)
Iterative Bestimmung der Form von Asphären mittels Scher-Interferometrie und inversem Raytracing
P10 · Poster · 121. Tagung (2020)
Die Strukturfunktion als neue Analysemethode in der optischen Oberflächenmesstechnik
A12 · Vortrag · 119. Tagung (2018)
Lens inspection using Multiple Aperture Shear Interferometry: Comparison to Wave Front Sensing Methods
A29 · Vortrag · 119. Tagung (2018)
Improved reconstruction quality of holographic projections by controlling the individual pixel shape
H3 · Hauptvortrag · 118. Tagung (2017)
Computational Optical Metrology (Keynote)
P20 · Poster · 117. Tagung (2016)
Realization of a shearing interferometer with LED multipoint illumination for form characterization of optics
A11 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Wave front characterization of Gaussian beams using shear interferometry and a weighted reconstructor
B13 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Three dimensional Modification of the Refractive Index in Photosensitive Foturan Glass
A19 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Kamera-Sichtstrahlkalibrierung für kleine Bildfelder
A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)