Jonas Bartsch

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

3 Beiträge

B7 · Vortrag · 122. Tagung (2021)

Sichtfäden - Ein neuer Ansatz zur generischen Kamerakalibrierung

S. Gauchan, J. Bartsch, R. B. Bergmann

A11 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry

S. K. Patra, J. Bartsch, M. Kalms, R. B. Bergmann

A12 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung

J. Bartsch, R. B. Bergmann