Christoph v. Kopylow

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

4 Beiträge

A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner, W. Li, Th. Bothe, J. Burke, C. v. Kopylow, R. B. Bergmann

A10 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner

A23 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp

P16 · Poster · 109. Tagung (2008)

Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera

T. Bothe, M. Schulte, W. Li, C. v. Kopylow, W. Jüptner