Wansong Li

B27 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Simulation of deformation measurements with deflectometry

W. Li, J. Burke

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A1 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Simulationsstudien für Deflektometriesysteme

W. Li, M. Sandner, J. Burke

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A19 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Kamera-Sichtstrahlkalibrierung für kleine Bildfelder

T. Reh, W. Li, A. Gesierich, R. B. Bergmann

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A23 · Vortrag · 113. Tagung (2012)

Highly accurate surface reconstruction for deflectometry

W. Li, J. Burke

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A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner, W. Li, Th. Bothe, J. Burke, C. v. Kopylow, R. B. Bergmann

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A10 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner

A23 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp

P16 · Poster · 109. Tagung (2008)

Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera

T. Bothe, M. Schulte, W. Li, C. v. Kopylow, W. Jüptner

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