M. C. Seraphim

Institut für Optik, Information und Photonik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

5 Beiträge

A18 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Algorithmic Elimination of Parasitic Reflections in Deflectometry

C. Faber, M. C. Seraphim, D. Sprenger, G. Häusler

A19 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

UV-Deflectometry: No parasitic reflections

D. Sprenger, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler

A22 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Tuning Structured Illumination Microscopy (SIM) for the Inspection of Micro Optical Components

M. Vogel, A. Kessel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler

P9 · Poster · 111. Tagung (2010)

Information efficient and accurate Structured Illumination Microscopy (SIM)

A. Kessel, M. Vogel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler

P33 · Poster · 111. Tagung (2010)

New Holistic Self-Calibration Method for Deflectometric Sensors

E. Olesch, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler