Justin Bich

Optische Messtechnik und optoelektronische Systeme, BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

2 Beiträge

B21 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
PDF

Lensless white light interferometry for technical surfaces

J. Bich, A. Battling, R. B. Bergmann, C. Falldorf