Justin Bich

Optische Messtechnik und optoelektronische Systeme, BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

2 Beiträge

B21 · Vortrag · 127. Tagung (2026)

Linsenlose Weißlichtinterferometrie an technischen Bauteilen

J. Bich, A. Battling, R. B. Bergmann, C. Falldorf

B38 · Vortrag · 126. Tagung (2025)

Finite Refractive Index Selective Propagation (FRISP) – eine hocheffiziente Methode zur optischen Simulation refraktiver Mikrostrukturen

F. Thiemicke, J. Bich, R. B. Bergmann, C. Falldorf