Justin Bich
Optische Messtechnik und optoelektronische Systeme, BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
2 Beiträge
B21 · Vortrag · 127. Tagung (2026)
PDF
Lensless white light interferometry for technical surfaces
B38 · Vortrag · 126. Tagung (2025)