Justin Bich

Optical Measurement Technology and Optoelectronic Systems, Bremen Institute for Applied Beam Technology

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Bremen Institute for Applied Beam Technology

2 papers

B21 · Talk · 127. Conference (2026)

Linsenlose Weißlichtinterferometrie an technischen Bauteilen

J. Bich, A. Battling, R. B. Bergmann, C. Falldorf

B38 · Talk · 126. Conference (2025)

Finite Refractive Index Selective Propagation (FRISP) – eine hocheffiziente Methode zur optischen Simulation refraktiver Mikrostrukturen

F. Thiemicke, J. Bich, R. B. Bergmann, C. Falldorf