Spektrale Speckle-Korrelation zur flächigen Bestimmung der Oberflächenrauheit
- 1Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Fraunhofer Institute for Physical Measurement Techniques IPM
- 2Department of Sustainable Systems Engineering (INATECH), University of Freiburg
- 3Institute of Applied Optics, University of Stuttgart
patrick.laux@ipm.fraunhofer.de
Die Oberflächenrauheit ist ein entscheidendes Qualitätsmerkmal in der Blechbearbeitung. In diesem Vortrag wird die Methode der spektralen Speckle-Korrelation (SSC) vorgestellt, bei der das Speckle-Muster der Oberfläche bei unterschiedlichen Wellenlängen erfasst wird. Durch die Korrelation aufgenommener Speckle-Bilder wird die Oberflächenrauheit bestimmt: An Oberflächen mit größerer Rauheit zeigen diese eine geringere Korrelation. Dies führt zu schnellen, flächigen und kontaktfreien Messungen.In diesem Beitrag wird erläutert, wie die Auswertefläche gewählt und störende Einflüsse der Oberfläche reduziert werden, um eine Rauheitsmessung mit möglichst hoher Ortsauflösung zu ermöglichen. Es wird gezeigt, dass der Rauheitsparameter Sq von Oberflächen im Bereich von 0,81 µm bis 2,07 µm mittels SSC mit weniger als 5 % Abweichung von Referenzwerten bestimmt werden kann. Die Ergebnisse zeigen das Potenzial der Methode für Oberflächenmessungen von Bereichen mit einem Durchmesser von 15 mm.