Lokalisierte Single-Shot-Auswertung für die phasenmessende Deflektometrie mit Wavelet Transformation

  1. 1Hochschule Landshut
  2. 2Forschungsinstitut für Wissensbasierte Systeme (FORWISS), Universität Passau

hanning.liang@haw-landshut.de

Phasenmessende Deflektometrie (PMD) ist ein etabliertes Messverfahren zur Bestimmung der Topographie spiegelnder Freiformflächen. Ein Nachteil des klassischen PMD-Verfahrens ist allerdings der sequenzielle Messprozess – für eine Messung werden mindestens sechs Kamerabilder mit phasengeschobenen Mustern verwendet. Für bewegte Objekte in der industriellen Fertigung oder nicht fixierbare Objekte wie die menschliche Hornhaut wurden in der Vergangenheit Auswerteverfahren vorgestellt, die es durch Verwendung der Single-Sideband Demodulation erlauben, eine deflektometrische Messung auf Basis einer einzelnen Kameraaufnahme durchzuführen ([1], [2]). Allerdings erlaubt diese Art der Auswertung keine Vermessung breitbandiger Objekte, da die Phase im Fourier-Raum nur global betrachtet wird. Es wird eine neue Single-Shot-Auswertemethode zur Phasenbestimmung mit Hilfe der Wavelet-Transformation vorgestellt. Durch den Vorteil der Wavelet-Transformation, das Signal sowohl im Orts- als auch im Frequenzraum lokal auszuwerten, wird eine Vermessung auch komplexer spiegelnder Oberflächen in der Bewegung möglich. [1] Liu et al. Adv. Opt. Techn. 2014; 3(4):441-445 [2] Liang et al. Proc. DGaO 2015 A8

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@inproceedings{dgao121-p7, title = {Lokalisierte Single-Shot-Auswertung für die phasenmessende Deflektometrie mit Wavelet Transformation}, author = {Hanning Liang, Tomas Sauer, Christian Faber}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 121. Jahrestagung}, year = {2020}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P7} }
121. Jahrestagung der DGaO · Bremen · 2020