Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle
- Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
dirk [dot] strohmeier [at] ipm [dot] fraunhofer [dot] de
Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.
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@inproceedings{strohmeier2008a27,
author = {Strohmeier, Dirk and Carl, Daniel and Fratz, Markus and Giel, Dominik and Höfler, Heinrich},
title = {{Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle}},
booktitle = {DGaO-Proceedings 2008},
series = {DGaO-Proceedings},
eventtitle = {109. Jahrestagung der DGaO},
eventdate = {2008-05-14/2008-05-17},
venue = {Esslingen},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
year = {2008},
pages = {A27},
url = {https://dgao-proceedings.de/paper/109-a27}
}
109. Jahrestagung der DGaO · Esslingen · 2008