Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle
- Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Fraunhofer Institute for Physical Measurement Techniques IPM
dirk.strohmeier@ipm.fraunhofer.de
Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.
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@inproceedings{dgao109-a27,
title = {Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle},
author = {Dirk Strohmeier, Daniel Carl, Markus Fratz, Dominik Giel, Heinrich Höfler},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 109. Jahrestagung},
year = {2008},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Talk A27}
}
109. Annual Conference of the DGaO · Esslingen · 2008