Bewertung von Weißlichtinterferometermessungen mit einer Kantenteststruktur
- Institut für Mess- und Regelungstechnik, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
maik.rahlves@imr.uni-hannover.de
Es wird ein einfaches physikalisches Modell zur Erklärung von Artefakten bei der Topographiebestimmung an steilen Kanten mit einem Weißlichtinterferometer aufgestellt. Anhand des Modells werden die physikalischen Parameter identifiziert, die die Artefaktentstehung beeinflussen. Unter Berücksichtigung dieser Parameter wird der Entwurf und die Realisierung einer Teststruktur vorgestellt, mit der überprüft werden kann, ob und wie stark diese Artefakte auftreten. Messungen an der Teststruktur werden mit dem Modell verglichen.
@inproceedings{dgao108-p54,
title = {Bewertung von Weißlichtinterferometermessungen mit einer Kantenteststruktur},
author = {Maik Rahlves, Mario Seifert, Thomas Fahlbusch, Joachim Frühauf, Eduard Reithmeier},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 108. Jahrestagung},
year = {2007},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Poster P54}
}
108. Jahrestagung der DGaO · Heringsdorf · 2007