Bewertung von Weißlichtinterferometermessungen mit einer Kantenteststruktur
- Institute of Measurement and Automatic Control, Leibniz University Hannover
maik.rahlves@imr.uni-hannover.de
Es wird ein einfaches physikalisches Modell zur Erklärung von Artefakten bei der Topographiebestimmung an steilen Kanten mit einem Weißlichtinterferometer aufgestellt. Anhand des Modells werden die physikalischen Parameter identifiziert, die die Artefaktentstehung beeinflussen. Unter Berücksichtigung dieser Parameter wird der Entwurf und die Realisierung einer Teststruktur vorgestellt, mit der überprüft werden kann, ob und wie stark diese Artefakte auftreten. Messungen an der Teststruktur werden mit dem Modell verglichen.
@inproceedings{dgao108-p54,
title = {Bewertung von Weißlichtinterferometermessungen mit einer Kantenteststruktur},
author = {Maik Rahlves, Mario Seifert, Thomas Fahlbusch, Joachim Frühauf, Eduard Reithmeier},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 108. Jahrestagung},
year = {2007},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Poster P54}
}
108. Annual Conference of the DGaO · Heringsdorf · 2007