Jana Grundmann

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (German National Metrology Institute)

6 papers

A23 · Talk · 125. Conference (2024)

Zerstörungsfreie multimodale Analyse von polymerbasierten Mikro- und Nanostrukturen für die Nanoimprint Lithographie

S. Burkert, L. Schwörer, T. Schubert, J. Grundmann, D. Stein, A. Heinrich

B21 · Talk · 124. Conference (2023)

Messungen und numerische Simulationen der Müller-Matrix an Silizium Nanowire-Strukturen

J. Grundmann, T. Käseberg, B. Bodermann

A1 · Talk · 123. Conference (2022)

Metrologie zur Identifikation und Charakterisierung von Materialdefekten an GaN- und SiC-Wafern

J. Grundmann, B. Bodermann

A1 · Talk · 122. Conference (2021)

Entwicklung eines Müller-Matrix-Mikroskops für Messungen an Einzelstrukturen

J. Grundmann, T. Käseberg, B. Bodermann

P13 · Poster · 122. Conference (2021)

Einzelstrukturcharakterisierung mittels abbildender Müller-Matrix-Ellipsometrie

T. Käseberg, J. Grundmann, T. Siefke, S. Kroker, B. Bodermann

P8 · Poster · 120. Conference (2019)

Charakterisierung der Transmissionsspektren von nano-strukturierten guided-mode resonance (GMR) Mikrofarbfiltern

J. Krüger, J. Grundmann, W. Wu, C. Rojas-Hurtado, B. Bodermann, S. Kroker, H. S. Wasisto, A. Waag