Michael Kalms

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

2 Beiträge

A11 · Vortrag · 121. Tagung (2020)

Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry

S. K. Patra, J. Bartsch, M. Kalms, R. B. Bergmann

Vortrag PDF

P10 · Poster · 121. Tagung (2020)

Die Strukturfunktion als neue Analysemethode in der optischen Oberflächenmesstechnik

M. Kalms, R. B. Bergmann