DGaO·Proceedings ISSN 1614-8436
DE

Michael Kalms

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Bremen Institute for Applied Beam Technology

2 papers

A11 · Talk · 121. Conference (2020)

Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry

S. K. Patra, J. Bartsch, M. Kalms, R. B. Bergmann
Talk PDF
P10 · Poster · 121. Conference (2020)

Die Strukturfunktion als neue Analysemethode in der optischen Oberflächenmesstechnik

M. Kalms, R. B. Bergmann