Tobias Zimmermann
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF
2 Beiträge
A13 · Vortrag · 121. Tagung (2020)
Deflektometrie unter Verwendung aperiodischer Sinusmuster
A8 · Vortrag · 119. Tagung (2018)