Tobias Zimmermann
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF, Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF
2 papers
A13 · Talk · 121. Conference (2020)
Deflektometrie unter Verwendung aperiodischer Sinusmuster
A8 · Talk · 119. Conference (2018)