Maximilian Oberhans

Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik, Technische Universität München

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P29 · Poster · 118. Tagung (2017)

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Modellierung von Referenzwellen zur lokalen Desensibilisierung in der Speckle-Interferometrie mittels Qualitätskriterien des Phasenbildes

L. Aulbach, M. Oberhans, M. Lu, S. Wang, A. W. Koch