Maximilian Oberhans

Chair of Measurement Systems and Sensor Technology, Technical University of Munich

1 paper

P29 · Poster · 118. Conference (2017)

Modellierung von Referenzwellen zur lokalen Desensibilisierung in der Speckle-Interferometrie mittels Qualitätskriterien des Phasenbildes

L. Aulbach, M. Oberhans, M. Lu, S. Wang, A. W. Koch