Tobias Klein

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

Physikalisch-Technische Bundesanstalt

2 Beiträge

A29 · Vortrag · 119. Tagung (2018)

Improved reconstruction quality of holographic projections by controlling the individual pixel shape

F. Thiemicke, T. Klein, R. B. Bergmann, C. Falldorf

Vortrag PDF

P43 · Poster · 113. Tagung (2012)

Traceable measurement of nanoparticle size using transmission scanning electron microscopy (TSEM)

E. Buhr, T. Klein, D. Bergmann, C. G. Frase

Poster PDF