Jan Burke
Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
Materials Science and Engineering / Australian Centre for Precision Optics (ACPO), Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation
8 Beiträge
B17 · Vortrag · 123. Tagung (2022)
Schachbrett Muster Kamera-Kalibrierung mit Machine Learning Methode
B5 · Vortrag · 122. Tagung (2021)
Kamera-Kalibrierung für optische Messaufgaben mit erweiterter Berechnung und Bewertung
B12 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Mustererzeugung zum Phasenschieben durch Rotation für die Deflektometrie Creating patterns for phase shifting by rotation in deflectometry
B13 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Suppression of contrast-related artefacts in phase-measuring structured light techniques
B27 · Vortrag · 115. Tagung (2014)
Simulation of deformation measurements with deflectometry
A1 · Vortrag · 114. Tagung (2013)
Simulationsstudien für Deflektometriesysteme
A23 · Vortrag · 113. Tagung (2012)
Highly accurate surface reconstruction for deflectometry
A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)