Jan Burke

Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, Fraunhofer Institute of Optronics, System Technologies and Image Exploitation IOSB
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Bremen Institute for Applied Beam Technology
Materials Science and Engineering / Australian Centre for Precision Optics (ACPO), Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation

8 papers

B17 · Talk · 123. Conference (2022)

Schachbrett Muster Kamera-Kalibrierung mit Machine Learning Methode

S. Reichel, T. Rentschler, J. Burke
B5 · Talk · 122. Conference (2021)

Kamera-Kalibrierung für optische Messaufgaben mit erweiterter Berechnung und Bewertung

S. Reichel, J. Burke, A. Pak
B13 · Talk · 118. Conference (2017)

Suppression of contrast-related artefacts in phase-measuring structured light techniques

L. Zhong, J. Burke
B27 · Talk · 115. Conference (2014)

Simulation of deformation measurements with deflectometry

W. Li, J. Burke
A1 · Talk · 114. Conference (2013)

Simulationsstudien für Deflektometriesysteme

W. Li, M. Sandner, J. Burke
A23 · Talk · 113. Conference (2012)

Highly accurate surface reconstruction for deflectometry

W. Li, J. Burke
A2 · Talk · 112. Conference (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner, W. Li, Th. Bothe, J. Burke, C. v. Kopylow, R. B. Bergmann