Stefan Schulte

Carl Zeiss SMT GmbH

3 papers

A11 · Talk · 108. Conference (2007)

Interferogrammanalyse mit Trägerfrequenzverfahren und hoher lateraler Auflösung

S. Schulte, B. Dörband

A7 · Talk · 105. Conference (2004)

Störreflexunterdrückung durch Modulation der Laserwellenlänge bei der interferometrischen Vermessung der Oberflächen von transparenten Planparallelplatten

S. Schulte, W. Kähler, B. Dörband, H. Müller

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A10 · Talk · 105. Conference (2004)

EUV-Lithographie - eine Herausforderung für die interferometrische Messtechnik

G. Seitz, S. Schulte, U. Dinger

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