Norbert Köpp

VEW Vereinigte Elektronik-Werkstätten GmbH

2 Beiträge

A10 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner

A23 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp