Werner Jüptner
BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Bremen Institute for Applied Beam Technology
3 papers
A10 · Talk · 109. Conference (2008)
Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme
P16 · Poster · 109. Conference (2008)
Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera
B30 · Talk · 107. Conference (2006)