Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten

  1. Institute of Physics, Carl von Ossietzky University of Oldenburg

hergen.oltmann@uni-oldenburg.de

Wir stellen ein elektronisches Specklemuster-Interferometer (ESPI) vor, das für Kosten von wenigen 100 € zu realisieren ist. Das System eignet sich für Verformungsanalysen an kleinen Objekten sowie zum Einsatz in der Ausbildung, z.B. in Optik-Praktika. Als Lichtquelle dient ein diodengepumptes Nd:YVO4-Lasermodul mit Frequenzverdopplung (lambda = 532 nm) und Leistungsstabilisierung (P ca. 5 mW). Objekt- und Referenzstrahl werden z.T. über Glasfasern geführt. Die Signalaufnahme erfolgt mit einer CCD-Firewire-Kamera. Für quantitative Verformungsmessungen kommt räumliches Phasenschieben zum Einsatz. Wir präsentieren Einsatzmöglichkeiten des Systems und zeigen, wie einige Limitierungen, die sich aus den optischen Eigenschaften des Lasermoduls ergeben, überwunden werden können.

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@inproceedings{dgao108-p28, title = {Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten}, author = {Hergen Oltmann, Heinz Helmers}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 108. Jahrestagung}, year = {2007}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P28} }
108. Annual Conference of the DGaO · Heringsdorf · 2007