Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht
- Optocraft GmbH
Sowohl durch die zunehmende Verwendung von Asphären in Produkten die in hoher Stückzahl hergestellt werden als auch durch den Einsatz von einzeln nicht korrigierten Optiken bzw. Optik-Baugruppen sind in der optischen Prüftechnik Wellenfronten zu erfassen, die meist nicht mittels interferometrischer Methoden detektierbar sind. Shack-Hartmann Sensoren bieten hier eine geeignete Alternative, wenn eine reduzierte laterale Auflösung akzeptiert werden kann. Es werden Mess- und Kalibrierstrategien für Nicht-Null Tests diskutiert, sowie Beispiele für Auflicht- und Durchlichtprüfung und die dabei erzielten Genauigkeiten vorgestellt.
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@inproceedings{dgao107-p26,
title = {Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht},
author = {Johannes Pfund, Mathias Beyerlein, Ralf Dorn, Jürgen Lamprecht},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 107. Jahrestagung},
year = {2006},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Poster P26}
}
107. Jahrestagung der DGaO · Weingarten · 2006