Automatisiertes Autofokus-Messsystem zur Oberflächen-Qualitätsprüfung

J. Miesner, K. Schnittker, Horst Kreitlow
  1. Fachhochschule Oldenburg/Ostfriesland/Wilhelmshaven

miesner [at] fho-emden [dot] de

Mit optischen Sensoren nach dem Autofokusprinzip können Abstände zu reflektierenden oder streuenden Oberflächen mit hoher Empfindlichkeit gemessen werden. Für eine Prüfung der Bauteilgeometrie im Fertigungsprozess ist eine automatisierte Messdatenerfassung, -auswertung und -dokumentation erforderlich. Die Anforderungen an die Tiefenauflösung senkrecht zur Bauteiloberfläche liegen im Sub-Mikrometerbereich. Es wird über ein automatisiertes Autofokusmesssystem mit Anwendungsbeispielen berichtet, bei dem der Autofokussensor auch gegen andere optische Sensoren ausgetauscht werden kann.

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@inproceedings{miesner2004a2,
  author     = {Miesner, J. and Schnittker, K. and Kreitlow, Horst},
  title      = {{Automatisiertes Autofokus-Messsystem zur Oberflächen-Qualitätsprüfung}},
  booktitle  = {DGaO-Proceedings 2004},
  series     = {DGaO-Proceedings},
  eventtitle = {105. Jahrestagung der DGaO},
  eventdate  = {2004-06-02/2004-06-05},
  venue      = {Bad Kreuznach},
  publisher  = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
  year       = {2004},
  pages      = {A2},
  url        = {https://dgao-proceedings.de/paper/105-a2}
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105. Jahrestagung der DGaO · Bad Kreuznach · 2004