Absolute Phasenmessende Deflektometrie
- Chair of Optics, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Die "Phasenmessende Deflektometrie" (PMD) ist ein auf der Streifenprojektion basierendes Verfahren zur Vermessung spiegelnder Oberflächen. Die primäre Messgröße ist die lokale Neigung. Im Vortrag soll eine neue Methode vorgestellt werden, mit der zusätzlich zur Oberflächennormale n(x,y) die Höhe z(x,y) des Objekts bestimmt werden kann. Bisher war die Höhe nicht direkt messbar, sondern, im Gegenteil, zur exakten Neigungsberechnung unbedingt mit anzugeben. Mit der absoluten PMD können nun spiegelnde Freiformflächen beliebig im Messraum platziert und vermessen werden.
@inproceedings{dgao105-a15,
title = {Absolute Phasenmessende Deflektometrie},
author = {Markus Knauer, Jürgen Kaminski, Gerd Häusler},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 105. Jahrestagung},
year = {2004},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Talk A15}
}
105. Annual Conference of the DGaO · Bad Kreuznach · 2004