Shishir Gauchan

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Bremen Institute for Applied Beam Technology

1 paper

B7 · Talk · 122. Conference (2021)

Sichtfäden - Ein neuer Ansatz zur generischen Kamerakalibrierung

S. Gauchan, J. Bartsch, R. B. Bergmann