Tobias Grunewald

Physikalisch-Technische Bundesanstalt

2 Beiträge

P26 · Poster · 121. Tagung (2020)

Analysis of ellipsometric layer thickness measurements applying a novel optimization method for depolarizing Mueller matrices

T. Grunewald, M. Wurm, S. Teichert, B. Bodermann, J. Reck, U. Richter

P10 · Poster · 120. Tagung (2019)

A new method to derive best-fit parameters and their uncertainties from depolarizing Mueller-matrices

T. Grunewald, M. Wurm, S. Teichert, B. Bodermann, J. Reck, U. Richter

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