Tobias Schäfer

Faculty of Engineering and Computer Science, Aschaffenburg University of Applied Sciences

1 paper

P10 · Poster · 119. Conference (2018)

Analyse der Schichtspannungen von Röntgenspiegeln mit einem Weißlichtinterferometer

T. Döhring, A. C. Probst, S. Zeising, T. Schäfer