Marc Sandner

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH

3 Beiträge

B29 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Reflection Characterization: 3D shape measurement of a surface using its diffuse and specular reflections

A1 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Simulationsstudien für Deflektometriesysteme

W. Li, M. Sandner, J. Burke

A2 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Absolut-Abstandsreferenz für die Streifenreflexionstechnik zur Verringerung systematischer Messfehler

M. Sandner, W. Li, Th. Bothe, J. Burke, C. v. Kopylow, R. B. Bergmann