Silke Peters

SENTECH Instruments GmbH

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (German National Metrology Institute)

3 papers

B35 · Talk · 124. Conference (2023)

Messverfahren zur Kontrolle tiefer Siliziumstrukturen für die 3D-Chip-Integration

J. Bauer, F. Villasmunta, F. Heinrich, C. Villringer, J. Reck, S. Peters, A. Treffer, Chr. Kuhnt, St. Marschmeyer, O. Fursenko, P. Steglich, A. Mai, S. Schrader, M. Regehly

P7 · Poster · 114. Conference (2013)

Bestimmung der Detektionseffizienz von Einzelphotonendetektoren

H. Hofer, S. Peters, W. Schmunk, S. Kück

P8 · Poster · 114. Conference (2013)

Charakterisierung von Einzelphotonendetektoren bei 1,55 µm

S. Peters, H. Hofer, W. Schmunk, S. Kück, R. M. Klein, I. Müller