Stefan Heist
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF, Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF
Institute of Applied Physics, Friedrich Schiller University Jena
18 papers
A34 · Talk · 126. Conference (2025)
Subpixelgenaue dichte 4D-Messung dynamischer Szenen mit Event-Kameras und strukturierter Beleuchtung
A25 · Talk · 125. Conference (2024)
Flächenhafte, berührungslose Formmessung der Vorder- und Rückfläche von transparenten Objekten
A27 · Talk · 124. Conference (2023)
Schnelle dreidimensionale Formvermessung von transparenten Objekten durch sequenzielle Projektion thermischer Streifen im langwelligen Infrarotbereich
B15 · Talk · 124. Conference (2023)
3D-, Farb- und Texturerfassung komplexer Objekte mit einem photogrammetrischen Handscanner
A4 · Talk · 123. Conference (2022)
Unterwasser-3D-Sensor mit strukturierter Beleuchtung
A20 · Talk · 123. Conference (2022)
Hochgeschwindigkeits-3D-Formvermessung mit chromatischer Schärfentiefeerweiterung
A1 · Talk · 121. Conference (2020)
Schnelle 3D-Vermessung von Gläsern mittels sequenzieller thermischer Streifenprojektion
A13 · Talk · 121. Conference (2020)
Deflektometrie unter Verwendung aperiodischer Sinusmuster
A15 · Talk · 120. Conference (2019)
New View Post-Calibration of an Array Projector
B15 · Talk · 120. Conference (2019)
Musterprojektion im kurzwelligen Infrarot (SWIR): augensichere 3D-Formmessung mit hoher Genauigkeit
A7 · Talk · 119. Conference (2018)
Musterprojektionsbasierte Erzeugung hyperspektraler 3D-Oberflächenmodelle
A9 · Talk · 119. Conference (2018)
Single camera photogrammetry utilizing non-DMD/LCoS based projection systems
A11 · Talk · 119. Conference (2018)
Optische 3D-Vermessung von Glas und transparenten Kunststoffen mit Projektion thermischer Muster
A22 · Talk · 118. Conference (2017)
GOBO-Projektion für schnelle IR-3D-Messtechnik
B16 · Talk · 118. Conference (2017)
Vergleich von Kalibrierstrategien für musterprojektionsbasierte optische 3D-Scanner
A5 · Talk · 115. Conference (2014)
Array-Projektion aperiodischer Sinus-Muster zur Hochgeschwindigkeits-3D-Formvermessung
P35 · Poster · 115. Conference (2014)
Analyse und Kompensation von Phasenfehlern in der Streifenprojektionstechnik
A18 · Talk · 114. Conference (2013)