Sven van Haver

Forschungsgruppe Optik, Technische Universiteit Delft

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B34 · Vortrag · 113. Tagung (2012)

Experimental Validation of the Extended-Nijboer-Zernike (ENZ) based Aberration Retrieval Method for Microscope Objectives

A. Wiegmann, S. van Haver, N. Kumar, S. F. Pereira

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