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DGaO
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Proceedings
ISSN 1614-8436
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Annelie Schiller
Annelie Schiller
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Fraunhofer Institute for Physical Measurement Techniques IPM
1 paper
A2 · Talk · 126. Conference (2025)
Spektrale Speckle-Korrelation zur flächigen Bestimmung der Oberflächenrauheit
P. Laux, A. Schiller, A Bertz, D. Carl, S. Reichelt