Patrick Steglich

Technische Hochschule Wildau
IHP – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Fachbereich Ingenieur- und Naturwissenschaften, Technische Hochschule Wildau

8 Beiträge

B35 · Vortrag · 124. Tagung (2023)
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Messverfahren zur Kontrolle tiefer Siliziumstrukturen für die 3D-Chip-Integration

J. Bauer, F. Villasmunta, F. Heinrich, C. Villringer, J. Reck, S. Peters, A. Treffer, Chr. Kuhnt, St. Marschmeyer, O. Fursenko, P. Steglich, A. Mai, S. Schrader, M. Regehly
P16 · Poster · 124. Tagung (2023)

Optical Through-Silicon Waveguides for 3D-Chip-Interconnections

F. Villasmunta, P. Steglich, F. Heinrich, C. Villringer, A. Mai, S. Schrader, H. Schenk
P26 · Poster · 124. Tagung (2023)

Silizium-photonische Biosensoren mit monolithisch integrierter Mikrofluidik

P. Steglich, M. Paul, G. Lecci, C. Mai, A. Mai
A17 · Vortrag · 122. Tagung (2021)

Bestimmung der optischen Konstanten und Streueigenschaften von transparenten Kunststoffen auf Polyurethanbasis für den Einsatz in der Optoelektronik

J. Bauer, O. Fursenko, F. Heinrich, M. Gutke, B. Dietzel, E. Kornejew, O. Broedel, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Edling, S. Pulwer, P. Steglich, M. Herzog, S. Schrader
P7 · Poster · 122. Tagung (2021)
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Neuartige UV-transparente 2-Komponenten-Polyurethanharze für Chip-on-Board-LED-Mikrolinsen

M. Gutke, J. Bauer, S. Pulwer, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Gruenefeld, M. Gamp, M. Edling, V. Stoycheva, P. Steglich, F. Heinrich, S. Steffen, M. Herzog, C. Dreyer, S. Schrader
P39 · Poster · 121. Tagung (2020)
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Asymmetrische Polymer-Linsen für Beleuchtungssysteme

J. Bauer, M. Gutke, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Gruenefeld, M. Gamp, M. Edling, P. Steglich, F. Heinrich, S. Schrader
P40 · Poster · 121. Tagung (2020)
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Neuartige UV-transparente 2-Komponenten-Polyurethanharze für Chip-on-Board-LED-Mikrolinsen

M. Gutke, J. Bauer, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Gruenefeld, M. Gamp, M. Edling, V. Stoycheva, P. Steglich, F. Heinrich, S. Steffen, M. Herzog, C. Dreyer, S. Schrader, C. Gerhard
P23 · Poster · 117. Tagung (2016)
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Fiber-optic interference fringe projection for 3D measurement

S. Pulwer, P. Steglich, C. Villringer, J. Bauer, T. Reusch, S. Schrader